8月银川—半材标委—会议资料(8.16-8.19)
2022-08-11 18:03:13   

国家标准-半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法-编制说明(预审稿).docx
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国家标准-半导体单晶晶向测定方法-编制说明(预审稿).docx
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国家标准-半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试  非接触涡流法 编制说明(讨论稿).docx
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国家标准-硅外延用三氯氢硅-编制说明(预审稿).doc
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国家标准-蓝宝石单晶用高纯氧化铝-(送审稿)编制说明.doc
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行业标准-氮化镓化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法-(编制说明)预审稿.doc
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