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10月网络会议—半材标委—会议资料（10.31-11.1）
2022-10-28 16:03:10

国家标准《硅单晶中碳、氧含量的测定低温傅里叶变换红外光谱法》--送审稿.doc
国家标准-半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试非接触涡流法-编制说明（送审稿）.docx

国家标准-半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试非接触涡流法-送审稿.docx

国家标准-碳化硅外延层厚度测试红外反射法-编制说明（送审稿）.docx

国家标准-碳化硅外延层厚度的测试红外反射法（送审稿）.docx

国家标准-碳化硅外延片表面缺陷的测试激光散射法（送审稿）.doc

国家标准-碳化硅外延片表面缺陷的测试激光散射法-编制说明（送审稿）.docx

国家标准-再生锗原料（送审稿）.doc

国家标准-再生锗原料-编制说明（送审稿）.doc

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