首页 > 标准目录列表
序号 |
标准号 |
标准名称 |
代替标号 |
国家/行业 |
31 |
ΓOCT 24977.3:1981 | 高纯碲 光谱法测定砷、锑、汞和锡含量 | ||
32 |
ΓOCT 26239.0:1984 | 半导体硅、粗硅和石英分析方法一般要求 | ||
33 |
ΓOCT 26239.1:1984 | 半导体硅、粗硅和石英 杂质总量测定方法 | ||
34 |
ΓOCT 26239.2:1984 | 半导体硅、粗硅和石英 硼含量测定方法 | ||
35 |
ΓOCT 26239.3:1984 | 半导体硅、粗硅和石英 磷含量测定方法 | ||
36 |
ΓOCT 26239.4:1984 | 二氯硅烷 杂质总量测定方法 | ||
37 |
ΓOCT 26239.5:1984 | 半导体硅和石英 杂质总量测定方法 | ||
38 |
ΓOCT 26239.6:1984 | 四氯化硅 二氯化硅、三氯化硅、四氯化硅、1，3，3，3四氯化硅烷，1，1，3，3四氯化硅烷，五氯化硅烷，六氯化硅氧烷，六氯化硅烷测定方法 | ||
39 |
ΓOCT 26239.7:1984 | 半导体硅 氧、碳和氮含量测定方法 | ||
40 |
ΓOCT 26239.8:1984 | 半导体硅及粗硅 二氯化硅烷、三氯化硅烷和四氯化硅烷测定方法 | ||
41 |
ΓOCT 26239.9:1984 | 三氯硅烷 氯甲烷、氯乙烷、丁烷、异丁烧二氯甲烷、三氯甲烷、四氯化碳、甲基三氯硅烷、氯甲基三氯硅烷测定方法 | ||
| 41条 上一页 1 2 下一页 | ||||
