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3月扬州—半材标委—会议资料（3.25-3.27）
2026-03-24 15:06:48

国家标准-Ⅲ族氮化物半导体晶圆表面缺陷的测试激光扫描法-讨论稿.docx

国家标准-Ⅲ族氮化物半导体材料极性的测定高分辨扫描透射电子显微镜法-讨论稿.docx

国家标准-半导体晶片近边缘几何形态评价第4部分：不完整区域局部平整度法（PSFQR、PSFQD、PSBIR）-讨论稿.docx

国家标准-氮化铝单晶位错密度测试方法-预审稿.doc

国家标准-碳化硅单晶片残余应力的测试-光弹法-(征求意见稿）.docx

国家标准-用于HEMT功率器件的硅衬底氮化镓外延片-讨论稿.docx

行业标准-硅多晶表面粉尘含量的测定重量法-讨论稿.docx

行业标准-硅多晶用硅粉-讨论稿.doc

行业标准-流化床法颗粒硅体金属含量测定-电感耦合等离子体质谱法-讨论稿.doc

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