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1月德州—半材标委—会议资料（1.12-1.14）
2026-01-09 21:08:44

国家标准-300mm硅片表面纳米形貌的评价方法-送审稿.docx
国家标准-半导体晶片近边缘形状的评价第3部分：近边缘扇形区域平整度评价方法（ESFQR、ESFQD、ESBIR）-送审稿.docx
国家标准《集成电路用高纯硅靶材》-送审稿.pdf
国家标准-电子器件用氮化镓外延片-讨论稿.docx
国家标准-金刚石材料热导率的测定谐波法-讨论稿.doc

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