关于召开《硅片表面光泽度的测试方法》等7项半导体材料标准
网络工作会议的通知
各标委会委员、各起草单位及会员单位：
根据国家标准化管理委员会、工业和信息化部及中国有色金属工业协会下达的关于标准制修订计划的文件精神，以及2022年标委会工作安排，现定于2022年10月10日～11日召开半导体材料标准网络工作会议。现将有关事宜通知如下：
一、会议内容和资料
会议将对《硅片表面光泽度的测试方法》等7项半导体材料标准进行审定，具体项目见附件。请各标准项目的负责起草单位、参加起草单位和相关单位派代表参加会议。各标准负责起草单位务必于10月8日前将标准稿件等发至标委会秘书处邮箱（tc203sc2@cnsmq.com），由秘书处挂网征求意见。各相关单位可于10月9日之后在有色标准信息网（www.cnsmq.com）“标准制定工作站”栏目下载。
二、会议时间
2022年10月10日上午9:00开始。
三、会议参加方式
参会人员在 “腾讯会议”软件界面，点击“加入会议”，输入会议ID及“个人姓名-单位”，点击“加入”，参加会议。
会议ID见附件。
四、联系方式
标委会秘书处：李素青 010-62565659 15652368697。
附件：审定项目表
抄报：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
