关于召开《碳化硅单晶片平整度测试方法》等7项半导体材料标准工作会议的通知
各标委会委员、会员单位及相关单位:
根据国家标准化管理委员会以及工业和信息化部下达的关于标准制修订计划的文件精神,兹定于2014年7月22日~24日在安徽省黄山市召开半导体材料标准工作会议,请贵单位派代表按时参加会议。现将有关事宜通知如下:
一、会议内容和资料
会议将对7项半导体材料国家和行业标准进行审定(具体项目见附件)。请各项目的负责起草单位和参加起草单位务必参加会议(主编单位须携带标准资料),同时也请各相关单位参加会议、提出意见。
各标准起草单位务必于7月10日前将标准稿件等发至标委会秘书处邮箱( hhddjj@263.net & ysx201331@126.com),由秘书处审查并挂网公示。相关单位可在有色标准信息网(www.cnsmq.com)下载。
二、会议日程和地点
1、报到时间:2014年7月22日
2、报到地点:黄山君瑞百合大酒店
(黄山 屯溪区 齐云大道55号 电话0559-2598666)
3、乘车路线:①黄山火车站—酒店:火车站乘坐9路在梦圆邨站下车,乘坐10路在新洲站下车,步行140m至酒店,总计7公里;②黄山屯溪机场—酒店:机场站乘坐19路在汽车站·旅游集散中心站 下车 ,步行至新汽车站,乘坐10路在新洲站下车,步行至酒店,总计9公里;③ 黄山市汽车客运总站—酒店:新汽车站乘坐10路在新洲站下车,步行至酒店,总计1.5公里。
三、联系人及会务
本次会议的会务工作由一之舟(上海)会展服务有限公司承担。
标委会秘书处:贺东江 010-62228796 13311097760
杨素心 010-62629312 15010981543
会务公司联系人:丁 霞 18913552240
四、回执
请各位参会代表将回执填妥,并于2014年7月17日前传真、邮箱或电话告知秘书处,以便安排会场、住宿等各项会务工作。
附件:会议审定标准项目
抄报:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
附件:
会议审定标准项目
(标准稿件2014年7月17日后可在www.cnsmq.com下载)
序号
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计划编号
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项目名称
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负责起草单位
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备注
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1
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20120276-T-469
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硅的仪器中子活化分析测试方法
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乐山乐电天威硅业科技有限责任公司
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审定
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2
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20120277-T-469
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硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
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有研新材料股份有限公司
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审定
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3
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20120278-T-469
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硅片订货单格式输入规范
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万向硅峰电子股份有限公司
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审定
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4
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20120288-T-469
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太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法
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江苏协鑫硅材料科技发展有限公司
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审定
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5
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20120289-T-469
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碳化硅单晶片平整度测试方法
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北京天科合达蓝光半导体有限公司
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审定
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6
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2013-0390T-YS
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异质外延层和硅多晶层厚度测量方法
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南京国盛电子有限公司
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审定
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7
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2013-0391T-YS
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硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
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南京国盛电子有限公司
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审定
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参 会 回 执
(请务必7月17日前回复,传真:010-62241898-816,邮箱:ysx201331@126.com)
单位名称
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通讯地址
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邮编
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代表姓名
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职务/职称
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手机
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邮箱
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随同人员情况
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姓名
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性别
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年龄
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与参会人员关系
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预计到达酒店时间(请在相应括号内打√)
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22日上午( )
22日下午( )
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22日20:00以后( )
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房间预订
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标准间:( )间,是否合住:是( ),否( );
大床间:( )间
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注:请务必提前回执或电话告知。
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